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项目名称 | 一种磁光椭偏测量装置及测量方法 | ||
项目品类 | 信息类型 | ||
参考价格 | 面议 万元 | 项目状态 | 【】 |
专利名称 | 一种磁光椭偏测量装置及测量方法
国内专利 |
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申请号/专利号 (例如:CN,JP) |
CN201010197891.6 | 专利权人 | 山东大学 |
申请日 | 2010-6-11 | 授权日 | 2012-1-18 |
公开(公告)号 (例如:CN,JP) |
CN101865827A | 法律状态 | 无效 |
行业分类 | 一级 二级 三级 | ||
战略性新兴产业分类 | 一级 二级 三级 | ||
意向价格 | 面议 万元 | 权属人所属地域 | 省 市 区 |
IPC分类 | 一级 二级 三级 | ||
专利类别 | 发明 | ||
是否有PCT 选项: | |||
合作方式 | 技术转让 |
专利摘要 |
一种磁光椭偏测量装置及测量方法,属磁性材料的磁光测量技术领域,装置由电源、激光光源、光路系统、电磁铁、PC机组成,利用上述装置可进行磁光椭偏的测量。本发明的特点如下:(1)、光路中加入分光计可以精确测量入射角,由于分光计测量角的分辨率可以达到0.01°,故测量精度高。(2)、通过对分光计改造,使其一平行光管可拆卸,避免了测量角度时需移动电磁铁的麻烦,使测量更加精确、方便。(3)、光路简单实用,光路中所需的光学器件都是通用的光学器件,成本低。(4)、操作方便,无需移动电磁铁就可进行材料纵向、极向磁光椭偏的测量。 |
信息有效期 | 至 |
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