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项目名称 一种磁光椭偏测量装置及测量方法
项目品类 信息类型
参考价格 面议 万元 项目状态
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专利登记表(供给方)

专利名称 一种磁光椭偏测量装置及测量方法     
国内专利
申请号/专利号
(例如:CN,JP)
CN201010197891.6 专利权人 山东大学
申请日 2010-6-11 授权日 2012-1-18
公开(公告)号
(例如:CN,JP)
CN101865827A 法律状态 无效
行业分类 一级    二级    三级 
战略性新兴产业分类 一级    二级    三级 
意向价格 面议 万元 权属人所属地域 省    市    区 
IPC分类 一级    二级    三级 
专利类别 发明
是否有PCT 选项:
合作方式 技术转让 


专利摘要
一种磁光椭偏测量装置及测量方法,属磁性材料的磁光测量技术领域,装置由电源、激光光源、光路系统、电磁铁、PC机组成,利用上述装置可进行磁光椭偏的测量。本发明的特点如下:(1)、光路中加入分光计可以精确测量入射角,由于分光计测量角的分辨率可以达到0.01°,故测量精度高。(2)、通过对分光计改造,使其一平行光管可拆卸,避免了测量角度时需移动电磁铁的麻烦,使测量更加精确、方便。(3)、光路简单实用,光路中所需的光学器件都是通用的光学器件,成本低。(4)、操作方便,无需移动电磁铁就可进行材料纵向、极向磁光椭偏的测量。


信息有效期      至   

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