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| 项目名称 |  一种老化测试基板 |
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| 项目品类 | 信息类型 | ||
| 参考价格 | 面议 万元 | 项目状态 | 【】 |
| 专利名称 | 一种老化测试基板
国内专利 |
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| 申请号/专利号 (例如：CN，JP) |
CN200920212174.9 | 专利权人 | 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 |
| 申请日 | 授权日 | ||
| 公开（公告）号 (例如：CN，JP) |
CN201535784U | 法律状态 | 已授权 |
| 行业分类 | 一级 二级 三级 | ||
| 战略性新兴产业分类 | 一级 二级 三级 | ||
| 意向价格 | 面议 万元 | 权属人所属地域 | 省 市 区 |
| IPC分类 | 一级 二级 三级 | ||
| 专利类别 | 实用新型 | ||
| 是否有PCT 选项： | |||
| 合作方式 | 其他 技术转让,技术许可 | ||
| 专利摘要 |
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本实用新型提供一种老化测试基板，包括：一种老化测试基板，在老化测试试验时连接老化机台，实现老化测试功能。包括：若干器件插座，用于插接待测器件；电源接口金手指，在老化测试试验时连到老化机台的电源接口；其特征在于，每个所述器件插座连接一电阻后，通过金属互联线并联到所述电源接口金手指上。给老化测试基板上的每个器件插座串联一个电阻，在老化试验进行时，通过量测与指定待测器件串联的电阻两端的电压，进而得到待测器件的电流。
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| 信息有效期 | 至 2018-03-31 |
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