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一种半导体功率器件瞬态热阻测试装置及方法

价格:¥  面议  万元

公开号:CN105092637A

专利(申请号):CN201510458374.2

所属行业:

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专利交易信息

专利名称 一种半导体功率器件瞬态热阻测试装置及方法     
国内专利
申请号/专利号
(例如:CN,JP)
CN201510458374.2 专利权人 温州大学
申请日 2015-07-30 授权日 2016-08-17
公开(公告)号
(例如:CN,JP)
CN105092637A 法律状态 已授权
行业分类 一级    二级    三级 
意向价格 面议 万元 权属人所属地域 省    市    区 
IPC分类 一级    二级    三级 
专利类别 发明
是否有PCT 选项:
合作方式 技术转让 
专利摘要
本发明提供一种半导体功率器件瞬态热阻测试装置及方法,包括依序相连的处理器、信号分配及采样电路和电流脉冲产生电路;信号分配及采样电路还与被测器件的输出端相连,用于根据处理器指令,确定输出当前电压脉冲,并采样被测器件热阻信息反馈给处理器;电压脉冲包括第一、第二电压脉冲;电流脉冲产生电路还与被测器件的输入端相连,用于根据当前电压脉冲,确定加载于被测器件上的当前电流脉冲,驱动被测器件产生的热阻信息;电流脉冲包括对应第一电压脉冲的加热电流脉冲和对应第二电压脉冲的热敏电流脉冲。实施本发明,能够实现通过被测器件强加热电流和弱热敏电流的强弱电分离、控制信号与数据分离,提高被测器件瞬态热阻的测试结果的准确性和精确度。(18-583)

专利相关信息

价值度评估结果

价值分

评估时间

评估时间为,评估报告以该评估时间进行的评估为准。

评估说明

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